IFM KQ pinnankorkeusalueen jatkuvaan valvontaan

Tyh­jä- ja yli­täyt­tö­ti­lo­jen jat­ku­va val­von­ta
Pin­nan­kor­keus­a­lu­een val­von­taan tar­koi­tet­tu KQ10 pys­tyy “nä­ke­mään” kaik­kien ei-me­tal­lis­ten sei­nä­mien läpi ja tun­nis­ta­maan gra­nu­laa­tit ja nes­teet il­man kos­ke­tus­ta. Sen vuok­si huol­to­toi­men­pi­tei­tä ei tar­vi­ta. Pro­ses­siar­vot vä­lil­lä 0…100 % (250 mm mat­ka il­man kuol­lut­ta aluet­ta) voi­daan siir­tää jat­ku­vas­ti IO-Lin­kin kaut­ta. An­tu­rin 20 LED-merk­ki­va­loa il­mai­se­vat pin­nan­kor­keu­den säi­liön si­säl­lä. Jos useam­pia KQ10-an­tu­rei­ta yh­dis­te­tään, voi­daan tun­nis­tusa­luet­ta kas­vat­taa vas­taa­vas­ti.

Kol­me kyt­ken­tä­pis­tet­tä yh­del­lä an­tu­ril­la
Kol­mea pin­nan­kor­keus­pis­tet­tä voi­daan val­voa yh­del­lä an­tu­ril­la sen si­jaan, että tar­vit­tai­siin 3 eril­lis­tä an­tu­ria – ja sa­mal­la saa­daan li­säk­si myös jat­ku­va mit­taus. Kyt­ken­tä­pis­teet ja muut toi­min­not ku­ten avau­tu­va / sul­keu­tu­va, hys­te­ree­si tai suun­taus ja an­tu­rin tun­nis­tusa­lue ovat ase­tel­ta­vis­sa.

Pin­nan­kor­keus­pis­te- ja jat­ku­va pin­nan­kor­keu­den val­von­ta
Kah­del­la pin­ta­ra­ja­kyt­ki­mel­lä (säi­liön ylä- ja ala­ra­ja) to­teu­te­tuis­ta pe­rin­tei­sis­tä rat­kai­suis­ta poi­ke­ten yh­del­lä KQ10-an­tu­ril­la saa­daan kol­me kyt­ken­tä­pis­tet­tä, jot­ka il­mai­se­vat säi­liön tyhjä‑, täy­si- ja yli­täyt­tö­ti­lat. Tämä vä­hen­tää tar­vit­ta­vien an­tu­rei­den mää­rää ja yk­sin­ker­tais­taa asen­nus­ta. Li­säk­si se suo­rit­taa jat­ku­vaa mit­taus­ta 250 mm mat­kal­la ja lä­het­tää tä­män mit­taus­tu­lok­sen (%-arvo) ja kyt­ken­tä­ti­lat IO-Lin­kin kaut­ta. Pie­net saos­tu­mat säi­liön si­sä­pin­nal­la ei­vät vai­ku­ta pin­nan­kor­keu­den tun­nis­ta­mi­seen, ja ne voi­daan sig­na­loi­da kyt­kin­läh­dön tai IO-Lin­kin kaut­ta, jos raja-arvo yli­te­tään. Tä­män jat­ku­van kun­non­val­von­nan avul­la voi­daan eh­käis­tä suun­nit­te­le­mat­to­mia tuo­tan­to­kat­kok­sia.

Lue li­sää…

Li­sä­tie­to­ja: Hor­mel Oy/Vesa Ki­ve­lä